Измерительный микроскоп серия VHX

Это передовое устройство для наблюдения, измерения и анализа микроструктур поверхностей, превосходящее традиционные оптические микроскопы благодаря увеличенной глубине резкости, широкому полю обзора и высокому увеличению.
Микроскоп поддерживает двух- и трёхмерные измерения, включая углы, расстояния, площади, а также построение 3D-моделей, профильных контуров и цветных карт изолиний.
Микроскопы моделей VHX обладают следующими преимуществами:
•  Обеспечивает чёткое изображение объектов с неровной поверхностью без необходимости многократной фокусировки.
•  Позволяет наблюдать большие участки образца за один раз, минимизируя необходимость перемещения.
•  Даёт возможность детального анализа микроструктур, включая мелкие детали, недоступные для традиционных микроскопов.
•  Наклонный кронштейн с диапазоном от +90° до -90° исключает мёртвые зоны, обеспечивая всесторонний обзор.
•  Интуитивный программный интерфейс позволяет любому пользователю легко выполнять сложные задачи через простые команды.
•  Поддержка измерений углов, расстояний, площадей, высот, а также построение 3D-моделей и контурных карт с высокой точностью.
•  Устранение смещений и вибраций при синтезе глубины резкости, а также коррекция оптических искажений при сшивке изображений.
•  Подходит для анализа широкого спектра объектов, включая прозрачные материалы, покрытия, биологические образцы и промышленные изделия.
•  Платформа XY с ультравысокой точностью обеспечивает прецизионное наведение на объект.
•  Одновременное отображение 3D-изолиний, полноцветного изображения и контурных данных для удобного анализа.